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反射/透射/薄膜厚度測量系統

反射/透射/薄膜厚度測量系統

產品型號： F10-RT

所屬分類：測厚儀

產品時間：2024-09-10

簡要描述：日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測量系統F10-RT
F10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統。可同時測量反射率和透射率，并可輕松分析膜厚、折射率和消光系數。
只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接，無需調整光學系統，無需復雜的設置，而且設置非常簡單。

詳細說明：

日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測量系統F10-RT

F10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統。可同時測量反射率和透射率，并可輕松分析膜厚、折射率和消光系數。
只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接，無需調整光學系統，無需復雜的設置，而且設置非常簡單。?

主要特點

  • 集成測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統
    光譜范圍廣，可選擇多種光源

  • 反射率和透射率同時測量，膜厚、折射率和可用分析能力消光系數
    標準維護時間記錄的相機測量位置

  • 放個樣品就行了。無需調整光學系統，設置非常簡單

主要應用

平板聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、抗反射涂層、PET和玻璃基板上的各種光學膜
光學鍍膜玻璃、眼鏡、鏡片等的硬質涂層。
薄膜太陽能電池CdTe、CIGS、非晶硅等

產品陣容

模型

F10-RT

-紫外線

F10-RT

F10-RT

-近紅外

F10-RT

　-近紅外

F10-RT

　-UVX

測量波長

范圍

190 – 1100nm380 – 1050nm950 – 1700nm380 – 1050nm380 – 1050nm

膜厚測量

范圍

1nm – 40μm15nm – 70μm100nm – 150μm15nm – 150μm1nm – 150μm

準確性

± 0.2% 薄膜厚度± 0.4% 薄膜厚度± 0.2% 薄膜厚度
1納米2納米3納米2納米1納米

光源

氘·

鹵素

鹵素

氘·

鹵素

測量示例

平板中使用的透明電極ITO的膜厚和折射率的測定例
同時測定反射率和透射率。薄膜厚度分析 FIL Measure 軟件可即時分析薄膜厚度、折射率等。




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