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  • 日本nanogray X射線測(cè)厚儀SX-1100系列
    日本nanogray X射線測(cè)厚儀SX-1100系列

    日本nanogray X射線測(cè)厚儀SX-1100系列 使用軟X射線(軟X射線)的厚度計(jì)(膜厚度計(jì))。以非接觸方式(軟X射線)測(cè)量薄片和板狀物體的厚度和密度(基本重量)。通過(guò)直接與參考物質(zhì)比較來(lái)計(jì)算厚度和密度(基本重量),而不是直接測(cè)量厚度。

    時(shí)間:2024-09-09型號(hào):
  • 日本sanko超聲波薄膜測(cè)厚儀Quintsonic 7
    日本sanko超聲波薄膜測(cè)厚儀Quintsonic 7

    日本sanko超聲波薄膜測(cè)厚儀Quintsonic 7 ◆測(cè)量塑料,金屬,木材,玻璃和陶瓷基材上的油漆,清漆和塑料層的厚度。 ◆它是非破壞性的,一次多可以測(cè)量5層。

    時(shí)間:2024-09-08型號(hào):
  • 日本sanko超聲波薄膜測(cè)厚儀ULT-5000
    日本sanko超聲波薄膜測(cè)厚儀ULT-5000

    日本sanko超聲波薄膜測(cè)厚儀ULT-5000 ◆玻璃鋼系統(tǒng),環(huán)氧系統(tǒng),環(huán)氧+粉末混合系統(tǒng),聚氨酯系統(tǒng)4ch電路系統(tǒng)。 ◆三種測(cè)量模式:混凝土,板巖和木材上的薄膜厚度,以及僅樹脂的厚度。

    時(shí)間:2024-09-08型號(hào):
  • UDM-1100/1100DL日本電磁測(cè)器NDK用于FC和FCD的超聲波測(cè)厚儀
    UDM-1100/1100DL日本電磁測(cè)器NDK用于FC和FCD的超聲波測(cè)厚儀

    日本電磁測(cè)器NDK用于FC和FCD的超聲波測(cè)厚儀UDM-1100/1100DL 諸如鑄鐵收縮腔和底部回聲分離之類的噪聲使得可以測(cè)量通常無(wú)法測(cè)量的物體。

    時(shí)間:2024-09-08型號(hào):UDM-1100/1100DL
  • UDM-1100/1100DL日本電磁測(cè)器NDK塑料/橡膠用超聲波測(cè)厚儀
    UDM-1100/1100DL日本電磁測(cè)器NDK塑料/橡膠用超聲波測(cè)厚儀

    日本電磁測(cè)器NDK塑料/橡膠用超聲波測(cè)厚儀UDM-1100/1100DL 用于FRP,塑料和橡膠測(cè)量 即使在黑暗的地方也易于看清顯示屏,在大型,易于看清的LCD顯示板上帶有后方EL照明的明亮清晰的顯示屏

    時(shí)間:2024-09-08型號(hào):UDM-1100/1100DL
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